基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器,ST Ericsson將半導體測試速度提升10倍
來源:網(wǎng)絡 2012-07-15 關(guān)鍵詞:LabVIEW NI PXI射頻儀器 工業(yè)自動化 電力系統(tǒng) ST-Ericsson芯片本身極為復雜,因此就需要驗證實驗室能夠滿足多種射頻標準,且達到嚴格測試的效能需求。 就算只是連接這些芯片,也需要多種標準與自定制數(shù)字協(xié)議。 然而,射頻分析儀、發(fā)生器、數(shù)字波形發(fā)生器等傳統(tǒng)箱型儀器體積龐大又昂貴,且其靈活度無法滿足ST-Ericsson的需求?! T-Ericsson的測試工程師因此選用了PXI平臺來取代傳統(tǒng)箱型儀器。 他們選擇了NI FlexRIO與不同的數(shù)字標準,例如串行外設接口(SPI)和內(nèi)置集成電路(I2C),進行通信。即便目前市面上的數(shù)字適配器模塊不能夠滿足需求,工程師也可快速開發(fā)自己的適配器模塊,無需擔心電腦后端以及FPGA通信功能。 針對射頻測試,ST-Ericsson選用了高性能的NI PXIe-5665矢量信號分析儀,它具備軟件定義的特性,并可與NI LabVIEW工具包兼容,滿足所有無線標準。 總的來說,相較之前的解決方案,PXI系統(tǒng)速度提升了十倍,而成本是之前的三分之一。PXI平臺的靈活性,能夠適應各種不同的數(shù)字和射頻標準?! ∽髡撸篠ylvain Bertrand - ST-Ericsson
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自動對焦:PXI射頻儀器
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