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- 基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器，ST Ericsson將半導體測試速度提升10倍
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來源：網(wǎng)絡2012-07-15關鍵詞：LabVIEWNIPXI射頻儀器工業(yè)自動化電力系統(tǒng) ST-Ericsson芯片本身極為復雜，因此就需要驗證實驗室能夠滿足多種射頻標準，且達到嚴格測試的效能需求。就算只是連接這些芯片，也需要多種標準與自定制數(shù)字協(xié)議。然而
2012-07-15 12:38:43
