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- 基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器，ST Ericsson將半導體測試速度提升10倍
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來源：網(wǎng)絡2012-07-15關鍵詞：LabVIEWNIPXI射頻儀器工業(yè)自動化電力系統(tǒng) ST-Ericsson芯片本身極為復雜，因此就需要驗證實驗室能夠滿足多種射頻標準，且達到嚴格測試的效能需求。就算只是連接這些芯片，也需要多種標準與自定制數(shù)字協(xié)議。然而
2012-07-15 12:38:43
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- 基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器ST-Ericsson將半導體測試速度提升10倍
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來源：網(wǎng)絡時間：2012-07-10關鍵詞：半導體芯片測試自動化技術 挑戰(zhàn) 構建靈活的驗證測試解決方案，滿足半導體芯片測試的多種射頻標準，進而升級整個特性記述實驗室?！ 〗鉀Q方案 使用軟件定義的NIPXI平臺，取代笨重、昂貴、難以調整
2012-07-10 08:38:23
