【導讀】USB和PCI-e是非常常用的用于外部和內部連接的串行通信標準，其最新版本或技術草案目前均已推出。USB 3.0推廣小組于2008年11月公布3.0版本的技術規(guī)范已經(jīng)完成；首臺經(jīng)驗證的USB 3.0消費產(chǎn)品在2010年CES上發(fā)布。推遲到2010年底完成正式技術規(guī)范的PCI-e 3.0由于傳輸速率過高也給測試帶來較大挑戰(zhàn)。測試廠商Tektronix（泰克）在近日“泰克2010年秋季創(chuàng)新論壇”中接受EDN China采訪時表示，技術指標和一致性的測試只是測試流程的必須環(huán)節(jié)之一，而更關鍵的功能是對測試結果的處理和分析。一致性測試遠遠不夠　　“目前由于PCI-e 3.0的最終技術標準還沒完成，因此測試廠商的方案還只是針對某些功能推出模塊化測試產(chǎn)品，在規(guī)范正式定稿之前很難提供自動化的方案。但實際上相比自動化測試，客戶最關心的問題是‘如果測試失敗怎么辦？’”， 泰克技術解決方案（HSS技術）市場經(jīng)理Sarah Boen女士表示，測試儀器不能僅僅給出測試通過或失敗的結果，還要能幫客戶找到導致失敗的原因?！　∷f，目前產(chǎn)業(yè)鏈各個環(huán)節(jié)的客戶很關注Tektronix PCI-e 3.0的測試產(chǎn)品，但其主要需求并不僅僅是能實現(xiàn)自動化。自動化測試已變成一個比較基本的功能，現(xiàn)在的主流測試儀器廠商哪個沒有自動化方案？為了讓產(chǎn)品脫穎而出，能對失敗原因進行分析的調試工具才是測試設備差異化競爭的核心。同樣對于USB 3.0的測試也是如此。大家通常談到的都只是一致性測試，而客戶需要驗證USB 3.0設計要求的遠不止于一致性或自動化測試工具。在被測器件測試失敗時，工具是否能夠進一步分析其導致問題的根本原因變得非常關鍵。USB 3.0測試要領　　Sarah Boen女士說，對于USB 3.0的測試方案可分為發(fā)射機和接收機兩方面，前者的測試指標同PCI-e 2.0類似，包含常見的抖動和眼圖等；值得指出的是隨著通道中電信號的數(shù)據(jù)率越來越快，通道的損耗經(jīng)常導致信號在接收端的眼圖閉合。在實際的系統(tǒng)中，常使用均衡 (EqualizaTIon)手段補償通道的損失，以得到“張開的眼圖”。對于接收端的測試主要集中在寬容度（Tolerance）測試和擴頻時鐘（SSC）的噪音等；另外線纜均衡也是USB 3.0測試需要考慮的。PCI-e 3.0測試挑戰(zhàn)　　PCI-e 3.0更高的傳輸速率導致更低的余量，就需要在發(fā)射端測試時進行“去嵌（De-embedding）”處理，以減少由夾具和線纜連接造成的信號損傷。這對測試設備本身提出了更高的要求，特別是要求更低的噪聲?！　arah Boen女士介紹說，相較于PCI-e1.0和2.0版，PCI-e3.0的單路數(shù)據(jù)速率從5GT/s上升至8GT/s，因此測試方案的難度也有很大不同。其中“去嵌”處理環(huán)節(jié)是最大的挑戰(zhàn)之一，需要測試廠商更多的重視，因為絕大部分噪音都產(chǎn)生于此，所以如何平衡噪音和采樣率是PCI-e 3.0面臨的主要問題之一?！　‘斎唬瑢τ谌魏螖?shù)字示波器來說，采樣率與內部噪聲之間存在緊密關系，即采樣率高、噪聲低，就可使用戶可以獲得更大的測量余量。此外，PCI-e 3.0的測試還要求較高的動態(tài)范圍，或通過控制帶寬來降低噪聲?？偠灾?，許多參數(shù)，甚至相互制約的參數(shù)，都需要調整到某個“Sweet Spot（最佳結合點）”。　　其次，由于信號從源端經(jīng)過測試儀器到輸出結果的一系列環(huán)節(jié)中的衰減可能比較嚴重，因此通過軟件針對接收端進行信號放大的“預處理”，無論是USB、PCI-e還是SATA的測試都十分必要。最后，由于數(shù)據(jù)速率提高到8GT/s，其同樣必須采用新的“均衡”方案以補償信道損耗，這帶來了新的發(fā)射機測量項目和一致性測試方法。均衡技術不能補償系統(tǒng)中的所有抖動來源，所以PCI-e 3.0還要求采用新的抖動方法。編輯：網(wǎng)絡轉載