中控亮相2011國際儀表與測量技術大會
2011-5-13 16:44:12中控科技集團有限公司供稿

　　 5月10日～12日，一年一度的儀器與測量領域水平最高、影響力最大的國際學術盛會——2011國際儀表與測量技術大會（I2MTC）在杭州龍禧福朋喜來登酒店召開。本屆I2MTC由美國電氣和電子工程師學會（IEEE）儀表與測量協(xié)會（I&M Society）主辦，浙江大學承辦，吸引了來自美國、意大利、英國、加拿大等40多個國家和地區(qū)的300余名專家和學者參加。中控技術股份公司作為僅有的兩家企業(yè)代表之一亮相，中控創(chuàng)始人褚健教授于開幕當天發(fā)表主旨演講，介紹了中控在自動化控制系統(tǒng)和現(xiàn)場總線技術等領域的最新科研成果和應用，引起了國內外學者的廣泛關注。


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